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BS EN ISO 10202-3-1998 金融交易卡.使用集成电路卡的金属交易系统的证券结构.密码键关系

作者:标准资料网 时间:2024-05-21 14:08:43  浏览:8822   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:Financialtransactioncards.Securityarchitectureoffinancialtransactionsystemsusingintegratedcircuitcards.Cryptographickeyrelationships
【原文标准名称】:金融交易卡.使用集成电路卡的金属交易系统的证券结构.密码键关系
【标准号】:BSENISO10202-3-1998
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:1998-11-15
【实施或试行日期】:1998-11-15
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:验证;算法;金融;代码表示;卡片;数据代码;粗梳机;信息交流;犯罪预防装置;银行;数据表示;信用卡;消费者与供货者的关系;集成电路卡;数据存储保护;密码;密码
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:A11
【国际标准分类号】:35_240_15
【页数】:32P;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:阴极喷涂机完好要求和检查评定方法
中标分类: 电子元器件与信息技术 >> 电子工业生产设备 >> 表面防护设备
发布日期:1900-01-01
实施日期:1997-01-01
首发日期:1900-01-01
作废日期:1900-01-01
出版日期:1900-01-01
页数:3页
适用范围

没有内容

前言

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目录

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引用标准

没有内容

所属分类: 电子元器件与信息技术 电子工业生产设备 表面防护设备
基本信息
标准名称:无损检测 测量残余应力的中子衍射方法
英文名称:Non-destructive testing—Standards test method for determining residual stresses by neutron diffraction
中标分类: 机械 >> 机械综合 >> 基础标准与通用方法
ICS分类: 试验 >> 无损检测
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2011-01-14
实施日期:2011-10-01
首发日期:2011-01-14
作废日期:
主管部门:全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
提出单位:全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
归口单位:全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
起草单位:中国工程物理研究院核物理与化学研究所、上海泰司检测科技有限公司、上海诚友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、上海材料研究所
起草人:陈波、孙光爱、黄朝强、熊智明、金宇飞
出版社:中国标准出版社
出版日期:2011-10-01
页数:36页
适用范围

本标准规定了中子衍射测量多晶材料残余应力的方法。本标准适用于均匀和非均匀材料以及含不同晶相的块状样品检测。
本标准简要介绍了中子衍射技术的原理,测量不同种类材料时对应采用的衍射晶面给出了建议,为如何选择与被测材料晶粒尺寸和应力状态有关的测量方向和待测体积提供了指导。
本标准描述了准确定位和校正中子束内检测部位的过程,目的是在测量时能够准确定义样品材料的取样体积。

前言

没有内容

目录

前言 Ⅲ 引言 Ⅳ 1 范围 1 2 规范性引用文件 1 3 术语和定义 1 4 符号和缩略语 4 5 方法概要 6 6 测量准备 10 7 材料表征 14 8 记录要求和测量过程 15 9 应力计算 17 10 结果可靠性 19 11 报告 19 附录A (资料性附录) 测量过程 21 附录B(资料性附录) 被测物理量不确定度的测定 26 参考文献 28

引用标准

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
EN13925-3 无损检测 多晶和非晶材料的X射线衍射 第3部分:仪器

所属分类: 机械 机械综合 基础标准与通用方法 试验 无损检测

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